典型的线性元件是滤波器和传输线。非线性元件则正相反，它会改变信号的频率特性。即使输入信号是单频的，经过非线性设备后，输出信号也可能包含谐波失真或其它畸变。常见的具有非线性特性的元件是功率放大器和混频器。矢量信号分析仪（VSA）和矢量信号发生器（VSG），比如NIPXIe-5663和NIPXIe-5673E，可以很好地实现非线性测量，比如计算放大器的1dB压缩点或找到混频器中无用谐波。然而，对于线性测量，比如滤波器的传输和反射系数，或者在指定的频率范围内精确描述相位和振幅特性，VNA则是更合适的选择，比如NIPXIe-5630。表1显示了进行常见的线性和非线性测量所推荐的PXIRF仪器。NIPXIe-5630VNA的小型化使其具有令人印象深刻的价值和灵活性。
测量：是以确定被测对象的量值为目的的全部操作。在这一操作过程中,将被测对象与复现测量单位的标准量进行比较,并以被测量与单位量的比值及其准确度表达测量结果。例如用游标卡尺对一轴径的测量,就是将被对象（轴的直径）用特定测量方法（用游标卡尺测量）与长度单位（毫米）相比较。若其比值为30.52,准确度为±0.03mm,则测量结果可表达为（30.52±0.03）mm。goihgoidhfoshgosfos
像素到像素干扰会成为读取过程中产生噪声的主要原因。这些干扰可通过单探测器架构消除。此外，通过利用1kHz至4kHz的数字微镜扫描速度，单点探测器可以达到与平行多点采样相类似的驻留时间。对于基于MEMS——或基于DMD——的紧凑型光谱分析仪引擎，结果显示SNR的范围大于1。为了尽可能地提高性能，用户需要考虑可被用于将光线反射至探测器的MEMS总面积。然后，将这个面积与可用单点探测器孔径尺寸仔细匹配。一个采用5.4微米微镜的DMD具有超过40万个可用像素，并且可以针对700纳米至2500纳米的波长进行优化。该款DMD是DLP2010NIR，它采用一个被称为TRP的全新像素架构。如图1中所见。
1.2 测量基准测量基准是复现和保存计量单位并具有规定计量单位特性的计量器具。在几何量计量领域内,测量基准可分为长度基准和角度基准两类。长度基准：1983年第十七届国际计量大会根据国际计量委员会的报告,批准了米的新定义：即“一米是光在线／秒时间间隔内的行程长度”。根据米的定义建立的国家基准、副基准和工作基准,一般都不能在生产中直接用于对零件进行测量。为了确保量值的合理和统一,必须按《国家计量检定系统》的规定,将具有高计量特性的国家基准逐级进行传递,直至用于对产品进行测量的各种测量器具。图1－1为长度（端度）计量检定系统表（简化）。
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后。
角度基准：角度量与长度量不同。由于常用角度单位（度）是由圆周角定义的,即圆周角等于360°,而弧度与度、分、秒又有确定的换算关系,因此无需建立角度的自然基准。1.3 量块量块是一种平行平面端度量具,又称块规。它是保证长度量值统一的重要常用实物量具。除了作为工作基准之外,量块还可以用来调整仪器、机床或直接测量零件。一般特性：量块是以其两端面之间的距离作为长度的实物基准（标准）,是一种单值量具,其材料与热处理工艺应满足量块的尺寸稳定、硬度高、耐磨性好的要求。通常都用铬锰钢、铬钢和轴承钢制成。其线胀系数与普通钢材相同,即为（11.5±1）×10－6 /℃,尺稳定性约为年变化量不超出±0.5～1μm／m。
换过载气之后，基线逐渐上升（由于载气净化管的原因，基线不是马上变化的）。第二天开机之后，基线非常高，并伴有基线强烈抖动，所有峰都湮没在噪音中，无法检测。经过检查，问题出现在新换的载气上，重新更换载气后，立即恢复了正常。当排除了以上可能造成基线问题的原因后，则应当检查进样垫是否老化（应养成定期更换进样垫的好习惯）；石英棉是不是该更换了；衬管是否清洁。值得一提的是，清洗衬管时可先用试验后定容的溶剂充分浸泡，再用超声波清洗几分钟，然后放入高温炉中加热到比工作温度略高的温度，后再重新安装。此外，检测器污染也可能造成基线问题，其可以通过清洗或热清洗的方法来解决。造成峰丢失的原因有两种：一是气路中有污染。
